我們實驗室正計劃將現今解析能力最強之顯微術包含超高真空穿透式電子顯微鏡(UHV-TEM, Jeol 2000V)與掃描式穿隧顯微鏡(STM, homemade)的功能結合在一起。 主要架構是將掃描式穿隧顯微鏡將如圖所示安裝於穿透式電子顯微鏡原來樣品台的位置。我們將此設備稱為”STM@UHV-TEM“。 此種整合的顯微術主要將可用來進行 in-situ 的各種實驗，例如奈米尺度下物體的操控、電性量測或研究交互作用並可直接觀察結構或組成的變化。 簡單來說， 在這個架構下 STM 的探針即可當成一類似可奈米操控的手，而 TEM 即當成一個可即時觀測的眼睛隨時觀看著 STM 的探針。 而 STM 的探針亦可進行正式STM 的工作或是當成電極用來量測特定位置的性質。 此外我們在 UHV-TEM 上還裝置二個蒸鍍源，可直接蒸鍍特定金屬於樣品上並即時觀察。