「單根奈米線熱電傳輸行為的研究」登上國際期刊的封面
刊登日期:2009-01-14
中央研究院陳洋元的研究團隊，成功地將一根奈米線懸吊在一掏空的矽基板上，並測量出它的導電率與熱傳導率。研究團隊發現在奈米尺度下，熱、電傳輸行為與一般的塊材大為不同，受到奈米線的結構與內在缺陷所壓制，並顯示熱流比電流受到更大的壓制。此一奈米線熱電傳輸行為的研究成果，對半導體工業奈米化的推展提供深遠的助益。該項研究成果除被國際知名之應用物理通訊(Applied Physics Letter)選為2008年二月之期刊封面外，下載次數已突破上千次。
期刊連結: http://www.phys.sinica.edu.tw/~lowtemp/