原子力顯微術已廣泛地應用於物質表面結構與機械特性的研究。靜態模式(static force mode)與輕敲模式(tapping mode)是AFM最常用的兩種傳統模式。本實驗室所架設之AFM系統，不同於傳統AFM之輕敲模式，目的希望能夠提高力靈敏度以獲得更高空間解析度影像，尤其是針對生物分子在液相環境中的高解析成像。這些另類之AFM模式，利用所謂之〝頻率調制 (frequency-modulation, FM)〞偵測技術，此技術可以量測AFM探針之共振頻率的變化。此外，我們亦提供一特殊激振方式使懸臂探針進行側向扭曲共振(torsion resonance mode, TR mode)運動之行為；此種側向之扭曲式振動方式，不同於傳統之彎曲式(Flexure mode)振動。本實驗室，已成功發展出頻率調制彎曲共振模式(frequency-modulation flexure resonance mode)與頻率調制扭曲共振模式(frequency-modulation torsion resonance mode)，並可獲得分子級解析度生物表面形貌影像與原子級的雲母表面結構訊息。預期這些新式AFM成像技術，可以具有很高的力靈敏度與高空間解析度，提供更多樣性的表面訊息。
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